動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）是一種應用于測定顆?；蚍肿映叽绲姆乔秩胧椒椒?。它可以測定分散體系中的顆粒或分子的尺寸和分布。在白炭黑的制備和應用領(lǐng)域，DLS被廣泛應用于測定其粒徑和穩(wěn)定性。

白炭黑是一種非常細小的碳黑顆粒，其粒徑一般在10納米至1微米之間。傳統(tǒng)的測量方法，如電子顯微鏡和激光粒度儀，對于白炭黑的測量存在一些問題。電子顯微鏡需要樣品制備和處理過程，且不適用于測量分散體系中的顆粒尺寸分布。激光粒度儀則需要樣品具有一定的透明性和均勻性，且不能測量小于100納米的顆粒。

相比之下，DLS更適用于小尺寸顆粒的測量。它利用激光束散射的光譜分析，測定顆粒熱運動引起的光散射強度的變化，從而計算出顆粒的尺寸和分布。DLS測量的原理是根據(jù)斯托克斯-愛因斯坦方程，根據(jù)顆粒的質(zhì)量、粘度、溫度、介質(zhì)折射率等參數(shù)，計算出顆粒的尺寸。

在白炭黑的應用領(lǐng)域中，DLS可以幫助我們了解白炭黑的粒徑分布情況，以及在不同條件下（如溫度、濃度、pH值等）的穩(wěn)定性。通過對白炭黑的粒徑和穩(wěn)定性的測量和分析，可以優(yōu)化其制備工藝，并探究其在各種應用中的性能表現(xiàn)。

需要注意的是，DLS測量結(jié)果可能會受到樣品中其他成分的影響，如聚集態(tài)的顆粒、有機物質(zhì)、離子等。因此，在進行DLS測量時，需要對樣品進行適當?shù)念A處理和清潔，以確保測量結(jié)果的準確性和可靠性。

DLS是一種非常有效的測量白炭黑粒徑和穩(wěn)定性的方法。通過DLS測量，可以幫助我們更好地了解白炭黑的性質(zhì)和應用，為其制備和應用提供有力的支撐。