???a href="http://www.ftlesier.cn/">機器人CI系列新增SWIR明星產品,填補了標準產品在短波波段上的響應空缺,且能在0.4μm-1.7μm內連續響應。相較于市面上傳統的InGaAs相機,具備更薄的InP層,更小的像元尺寸,更少的壞點,及更高的一致性,在半導體、光伏、農業、印刷等行業的AOI設備中更為適用。
CI系列SWIR工業面陣相機
光譜更寬,“洞見”更多
TEC制冷,圖像更細膩
TEC開啟/關閉時,噪點測試結果如下:
可靠的產品應用
半導體硅片檢測
硅在 1.1μm以上的波長下是透明的。因此,在最佳波段1.5μm的短波下,相機可拍攝到硅片的底層結構,檢測硅片隱裂等缺陷;或拍攝TFT顯示屏的背面,檢測觸點質量。
光伏電池片檢測
發光成像有助于通過使硅片或太陽能電池發光,來識別硅片或太陽能電池中的不一致性,如EL、PL等。
材料分選(塑料分類)
SWIR可對多種材料進行分類。針對塑料制品,在特定的波段下,可用于識別PE、PP、PET、PS、PVC等多種材質,尤其適用于不同材質的黑色/同色塑料進行分選的需求,可廣泛應用于在家用、汽車和電子產品中的塑料分類。
含水量檢測
水在特定的波長上有強烈的吸收作用,如在1.45μm波段下,水的吸收能力較強,所以在圖像中顯得比較暗。含水量少的部分,反射率會強烈增加,圖像亮度較高。
液面檢測